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電子產(chǎn)品可靠性核心是印制電路板組件 PCBA(Printed Circuit Board Assembly),而印制電路板 PCB 作為各種元器件的載體與電路信號傳輸的樞紐已成為電子產(chǎn)品最重要、最關(guān)鍵的部件,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平將決定整機設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。
一、PCB分層起泡
IPC-A-610 標(biāo)準已對分層起泡給出明確的定義。起泡:一種表現(xiàn)為層壓基材的任何層與層之間,或基材與導(dǎo)電薄膜或保護性圖層之間的局部膨脹與分離的分層形式;分層:印制板內(nèi)基材的層間,基材與導(dǎo)電箔間或其它間的分離。
具體可參見上圖,PCB分層在板表面的表征為出現(xiàn)“泛白”,而起泡的表征為出現(xiàn)“隆起”。
1.1 分層起泡的特性要因圖
以下分析來源于廠內(nèi)的失效案例總結(jié),同時也收集了 PCB板廠的現(xiàn)場經(jīng)驗及時業(yè)內(nèi)同行的分析數(shù)據(jù)。
1.2 分層起泡的失效分析流程
最后,特別強調(diào),除非確定PCB受潮之外,不建議對PCB做不必要的烘烤動作,烘烤本身是一個“雙刃劍”,一方面確實可以起到除濕作用,但其產(chǎn)生的負作用也不少,若烘烤溫度、時間設(shè)置不當(dāng)會加速其分層起泡的風(fēng)險,同時 PCB 鍍層也是一個考驗,會加速鍍層的氧化影響其焊接性,特別是OSP表面處理需謹慎處理。
二、PCB 內(nèi)短缺陷
內(nèi)短,即 PCB 電測時發(fā)現(xiàn)的內(nèi)層短路,其缺陷發(fā)生在內(nèi)層圖轉(zhuǎn)至多層壓合這個過程,如下圖所示,為內(nèi)短切片的照片。表面上看,內(nèi)層系統(tǒng)這個環(huán)節(jié)的制程很簡單,但經(jīng)過實際研究發(fā)現(xiàn),產(chǎn)生內(nèi)短的原因多種多樣,甚至超出內(nèi)層系統(tǒng)的制程,程度遠遠超出我們現(xiàn)象。
要想找到內(nèi)短產(chǎn)生的原因,首先要掌握分析內(nèi)短的方法,話句話說,要找到內(nèi)層短路的位置。由于最終的成品板經(jīng)過了壓合、阻焊涂覆等工藝,我們不會一目了然的看到內(nèi)層短路的位置,進而會通過一定手段去分析,具體分析流程如下:
(1)電測試找點:
電測試發(fā)現(xiàn)短路的產(chǎn)品,由找點人員通過找點軟件和缺陷坐標(biāo)找出短路位置,并在外層網(wǎng)絡(luò)上進行指向標(biāo)記
(2)網(wǎng)絡(luò)分析
對找點后的產(chǎn)品進行網(wǎng)絡(luò)分析,以找到內(nèi)層短路位置,我們可通過工程數(shù)據(jù)處理軟件(如 UCAM、GENESIS 等)對缺陷位置建立網(wǎng)絡(luò),從而找到內(nèi)短所在層和位置
(3)平磨切片
將缺陷位置切片取樣,并對切片進行平磨,磨至上面網(wǎng)絡(luò)分析出的內(nèi)短層面,如圖 5 所示,最好不要將內(nèi)短所在層面上的 PP 全部磨掉,以免破壞缺陷狀態(tài),影響對缺陷的判斷。
三、PCB 爆板失效
爆板位置進行切片觀察,發(fā)現(xiàn)芯板的銅箔和樹脂之間發(fā)生分離,見下圖。這種界面分離原因從兩方面考慮:第一,焊接時基材受熱膨脹過大;第二,兩者界面本身的結(jié)合力弱,而造成兩者結(jié)合力弱的原因比較復(fù)雜。
3.1 基材的熱膨脹系數(shù)
對 PCB 基材的熱膨脹系數(shù)(Z-CTE)和膨脹百分比(PTE)進行測試,結(jié)果顯示 PCB 基材的α1-CTE 為 54.7 ppm/℃,α2-CTE 為 288.2 ppm/℃,PTE 為 3.95%。參考 IPC-4101C 規(guī)定對于一般 Tg 小于 150 ℃的 FR-4 基材,α1-CTE 應(yīng)不大于 60 ppm/℃,α2-CTE 應(yīng)不大于300 ppm/℃,PTE 不大于 4.0%。表明 PCB 焊接過程中膨脹在可接受的范圍內(nèi)。TMA 測試曲線如下圖:
3.2 掃描電鏡觀察
剝開爆板位置,對基材和銅箔進行觀察,發(fā)現(xiàn)銅箔一側(cè)沒有明顯的樹脂殘留,而兩者之間未發(fā)現(xiàn)污染,表明壓合時樹脂沒有對銅箔形成良好的潤濕。用掃描電鏡對剝開的兩側(cè)進行觀察,發(fā)現(xiàn)銅箔的表面處理存在問題。進一步對比失效批次和正常批次的芯板銅箔,發(fā)現(xiàn)兩者之間存在明顯差異,見下圖。正常批次芯板的銅箔毛面銅瘤密度要大,銅面粗糙,失效批次的芯板銅箔毛面銅箔密度小,銅面光滑,這將降低銅箔和樹脂之間的結(jié)合力。
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